無(wú)損檢測大厚度比試件的透照技術(shù)

無(wú)損檢測大厚度比試件的透照技術(shù)

射線(xiàn)透照常規工藝允許試件有一定的厚度差異，在射線(xiàn)底片上所能顯示的厚度范圍，就稱(chēng)為RT厚度容度。但若試件厚度差過(guò)大，就會(huì )透照質(zhì)量失效，要解決此問(wèn)題，必須采用一些特殊工藝或技術(shù)措施。

試件厚度差異的大小可用試件厚度比來(lái)衡量，試件厚度比可定義為一次透照范圍內試件的最大厚度與最小厚度之比，用Ks表示。當Ks大于1.4時(shí)，可以認為屬于大厚度比試件。實(shí)際工作中的大厚度比試件包括余高較高的薄板對接焊縫試件、小口徑管試件、角焊縫試件，以及一些形狀較復雜的機械零件。

大厚度比對射線(xiàn)照相質(zhì)量的不利影響主要表現在兩個(gè)方面：一是因試件厚度差較大導致底片黑度差較大，而底片黑度過(guò)低或過(guò)高都會(huì )影響射線(xiàn)照相靈敏度。二是因試件厚度變化導致散射比增大，產(chǎn)生邊蝕效應。

對大厚度比試件透照的特殊技術(shù)措施包括適當提高管電壓技術(shù)、雙膠片技術(shù)和補償技術(shù)。

【適當提高管電壓技術(shù)】

適當提高管電壓是透照大厚度比試件最常采用的，也是最簡(jiǎn)便的方法。

隨著(zhù)管電壓的提高，底片上不同部位的黑度差將減小，這樣，在規定的黑度范圍內，可以容許更大的試件厚度變化范圍，即提高管電壓可以獲得更大的透照厚度寬容度。此外，對厚度變化的試件透照，提高管電壓可以減小散射比，降低邊蝕效應。但是射線(xiàn)能量提高后，衰減系數μ減小，從未會(huì )導致對比度減小，這一點(diǎn)對射線(xiàn)照相靈敏度不利。因此，管電壓不能任意提高，究竟管電壓提高多少比較合適，這是確定具體透照工藝需要研究的問(wèn)題。

【雙膠片技術(shù)】

對厚度差較大的工件，可以采用在一只暗盒里放兩張膠片同時(shí)透照的雙膠片技術(shù)。

暗盒里放置的兩張膠片一般應選用感光度不同的兩種膠片（異速雙片法），其中感光度較大的膠片適用于透照厚度較大部位的觀(guān)察評定。另一種是在暗盒中放置感光速度相同的兩張膠片（同速雙片），管片方法是對黑度較小部位，將雙片重疊觀(guān)察評定，對黑度較大部位，用單片觀(guān)察評定。

【補償技術(shù)】

補償技術(shù)時(shí)指用補償塊、補償粉、補償泥、補償液等填補工作澆薄部分，使透照厚度差減小的方法，焊縫照相可使用厚度補償塊，形狀不規則的小零件照相可使用流質(zhì)吸收劑（醋酸鉛加硝酸鉛溶液），或金屬粉末（鐵粉或鉛粉）作為厚度補償物。