物質(zhì)中的原子產(chǎn)生次級的特征X射線(xiàn)（X光熒光）

　　物質(zhì)中的原子，使之產(chǎn)生次級的特征X射線(xiàn)（X光熒光）而進(jìn)行物質(zhì)成分分析和化學(xué)態(tài)研究。熒光，顧名思義就是在光的照射下發(fā)出的光。X射線(xiàn)熒光就是被分析樣品在X射線(xiàn)照射下發(fā)出的X射線(xiàn)，它包含了被分析樣品化學(xué)組成的信息，通過(guò)對上述X射線(xiàn)熒光的分析確定被測樣品中各組份含量的儀器就是X射線(xiàn)熒光分析儀。

　　根據激發(fā)方式的不同，X射線(xiàn)熒光分析儀可分為源激發(fā)和管激發(fā)兩種：用放射性同位素源發(fā)出的X射線(xiàn)作為原級X射線(xiàn)的X熒光分析儀稱(chēng)為源激發(fā)儀器；用X射線(xiàn)發(fā)生器（又稱(chēng)X光管）產(chǎn)生原級X射線(xiàn)的X熒光分析儀稱(chēng)為管激發(fā)儀器。通過(guò)測定熒光X射線(xiàn)的能量實(shí)現對被測樣品的分析的方式稱(chēng)之為能量色散X射線(xiàn)熒光分析，相應的儀器稱(chēng)之為能譜儀，通過(guò)測定熒光X射線(xiàn)的波長(cháng)實(shí)現對被測樣品分析的方式稱(chēng)之為波長(cháng)色散X射線(xiàn)熒光分析，相應的儀器稱(chēng)之為X射線(xiàn)熒光光譜儀。就能量色散型儀器而言，根據選用探測器的不同，X射線(xiàn)熒光分析儀可分為半導體探測器和正比計數管兩種主要類(lèi)型。

　　現代儀由以下幾部分組成：X射線(xiàn)發(fā)生器（X射線(xiàn)管、高壓電源及穩定穩流裝置）、分光檢測系統（分析晶體、準直器與檢測器）、記數記錄系統（脈沖輻射分析器、定標計、計時(shí)器、積分器、記錄器）。

　　不同元素具有波長(cháng)不同的特征X射線(xiàn)譜，而各譜線(xiàn)的熒光強度又與元素的濃度呈一定關(guān)系，測定待測元素特征X射線(xiàn)譜線(xiàn)的波長(cháng)和強度就可以進(jìn)行定性和定量分析。本法具有譜線(xiàn)簡(jiǎn)單、分析速度快、測量元素多、能進(jìn)行多元素同時(shí)分析等優(yōu)點(diǎn)，是目前大氣顆粒物元素分析中廣泛應用的三大分析手段之一（其他兩方法為中子活化分析和質(zhì)子熒光分析）。根據分析能力的大小還可分為多元素分析儀器和個(gè)別元素分析儀器。這種稱(chēng)X射線(xiàn)熒光分析呼多用于能量色散型儀器。

　　從原子物理學(xué)的知識我們知道，對每一種化學(xué)元素的原子來(lái)說(shuō)，都有其特定的能級結構，其核外電子都以各自有的能量在各自的固定軌道上運行，內層電子在足夠能量的X射線(xiàn)照射下脫離原子的束縛，成為自由電子，我們說(shuō)原子被激發(fā)了，處于激發(fā)態(tài)，這時(shí)，其他的外層電子便會(huì )填補這一空位，也就是所謂躍遷，同時(shí)以發(fā)出X射線(xiàn)的形式放出能量。

　　由于每一種元素的院子能級結構都是特定的，它被激發(fā)后躍遷時(shí)放出的X射線(xiàn)的能量也是特定的，稱(chēng)之為特征X射線(xiàn)。通過(guò)測定特征X射線(xiàn)的能量，便可以確定相應元素的存在，而特征X射線(xiàn)的強弱（或者說(shuō)X射線(xiàn)光子的多少）則代表該元素的含量。

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